全新NI PXI射频开关为规模化测试系统延寿提速
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| 全新NI PXI射频开关为规模化测试系统延寿提速 |
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作者：佚名 转贴自：NI 点击数：270 更新时间：2012-9-6 文章录入：pecker
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美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）近日发布新的NI PXI/PXIe-2543固态射频多路复用器，为工程师提供了一个长期高效的解决方案来对高达6.6GHz的射频信号的路由进行优化。相较传统的机电开关解决方案，NI PXI/PXIe-2543的固态构架能够实现更加快速的开关以及多次重复测量。
感言：
“新的NI PXI/PXIe-2543固态开关是基于行业领先的NI PXI平台的成功经验构建而成，其固态架构为射频应用提供了高速度和可靠性。”美国国家仪器有限公司测试市场总监Charles Schroeder如是说道，“使用这个开关，自动化测试领域的工程师可以整合并同步许多PXI仪器，包括射频发生器和分析仪，从而最大化测试系统的投入产出比并能够进一步提高精确度和吞吐量。”
产品特性
针对于高密度射频开关的6.6GHz双4x1多路复用器，适用于多站测试
采用固态架构，延长了开关的使用寿命
所有通道都使用了50 Ohm终端，提高射频性能
整合PXI触发以进行快速可重复的测量 |
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