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  研究发现盘体工作温度与硬盘故障率有细微关联         
研究发现盘体工作温度与硬盘故障率有细微关联
[ 作者:佚名    转贴自:cnbeta.com    点击数:313    更新时间:2014-5-13    文章录入:pecker

    在线备份提供商Backblaze托管了多达34000个硬盘,在运营数据中心的同时,细心的他们总结出来了一些有趣的可靠性数据,数据揭示了硬盘驱动器盘体工作温度与故障率的相关性。从采样数据上看,硬盘的平均温度范围从22到31度之间为多,而16-24摄氏度工作下,故障率保持一个较低水准,而到了25摄氏度以上时,硬盘的故障率开始陡然上升,并且7200转硬盘的温度通常高于5400转,其故障率就相应比较高。

    此外,Backblaze还总结出了故障率最高的硬盘:希捷Barracuda LP 1.5TB,这款产品的平均每年故障增长率15.6%,总体故障率高达34.6%。

    当然,也有一些不同的例子,希捷Barracuda 3TB和日立Deskstar 7K2000的故障率对于温度相对并不敏感。

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